研究開発機器 詳細

装置名:走査型電子顕微鏡

■分類:0403電磁気分析装置
■メーカー:日本電子㈱
■型式:JSM-6060LV

■概要:
低真空にする事で、含水試料、導電性のない試料を、ノンコーティングで観察が可能。電子線を試料表面上に当てて、そこから放出される電子を検出器で増幅し、ディスプレイ上に像として映し出す装置であり、部品の破断面等を解析する
■用途:
材料の微小部観察。固体・粉体などに多用でき、鉄工・農機具メーカーが金属材料検査等に利用したり、食品メーカーが粉体の検査に利用できる
■仕様:
[倍率]8〜300000倍(5倍可能)[加速電圧]0.5kV〜30kV試料ステージ移動可能

■料金:2500円/時間 17500円/日

■所有機関:財団法人室蘭テクノセンター

〒050-0083 室蘭市東町4丁目28番1号
電話:0143-45-1188 ファックス:0143-45-6636

■設置場所:室蘭テクノセンター

■この機器の問い合わせ用コード:01-9999-040304-H13-001

研究機器
検索システム

(データベースの概要についての文章)


■AND検索
複数単語をスペースで区切ることで、AND検索(いずれの単語も含む)ができます。 AND語句も使用できます。
例:金属 AND 加工
■OR検索
複数単語をORで区切ることで、OR検索(いずれかの単語を含む)ができます。
例:高周波 OR X線
■NOT検索
単語の前にNOT をつけることで「その単語を含まない」という条件で検索できます。 文頭にも使用できます。
例:食品 NOT 加工
例:NOT 大学